- 類型：進口
- 產品別稱：X射線斷層掃描
- 測量范圍：200mm
- 顯示方式：數顯
- 探測器類型：X射線微焦點
- 探測器分辨率：0.0001mm
- 工作臺承重：40KG
- 氣壓：7-10bar
- X射線源：225kV(450kV可選)
德國Werth全球家將X射線掃描成像技術整合到三坐標測量系統，實現產品無損可視化準確測量，并可選配光學、光纖、探針、激光掃描等多種傳感器。對工件內外部所有結構尺寸全面的高精密測量，同時可實現工件材質的缺陷分析?？蓪λ芰?、陶瓷、復合材料、金屬等多種材質制成的產品進行無損尺寸測量和裝配評估等。壓縮測量周期的同時，保證了高品質的要求。此機榮獲2005年度歐洲模具設計金獎。
Tomo工業CT測量機主要特點：
◆ 全球將X射線斷層掃描成像技術整合到三坐標測量系統，實現復雜部件高精度內外尺寸全面測量
◆ 可選配第二個Z軸，配置其他傳感器（光學、探 針、光纖、激光等）
◆ Werth公司技術復合式傳感器技術，進一步保證 CT測量數據更準確
◆ 堅固的花崗巖基座，保證機器具有高穩定性
◆ 高精密機械軸承技術及線性導軌系統，確保實現 高精度的測量
◆ 無論從設計還是結構，測量機完全滿足并超出X射線使用安全標準
◆ 基于Werth公司優異的圖形處理及3D重構技術，測量速度更快
◆ Werth公司技術的X射線傳感器獨立校準系統
◆ Werth公司技術的柵格斷層掃描技術：
精密測量微小部件
掃描更大尺寸工件，提高分辨率
擴展測量范圍
◆ 測量軟件可快速3D重構，也可進行2D測量
◆ 測量工件內部尺寸的同時，也可實現材質缺陷分析
◆ 選用全球廣泛應用的WinWerth軟件 (德國國家計量院PTB長度標準認證) ，界面友好，操作簡單
◆ 可使用擬合Bestfit及公差擬合Tolerancefit軟件進行輪廓匹配分析及三維CAD工件公差比對
◆ 廣泛應用于復雜尺寸測量，首件評估，逆向工程，質量控制等
工業CT應用領域: 模具行業、逆向工程、汽車行業、航空航天、精密機械加工、船舶等
德國WERTH公司生產的TOMO系列工業CT，高精度工業CT斷層掃描測量機，先進的技術，工業CT價格咨詢，工業CT技術服務都可以聯系丹青公司。
工業CT技術參數：
型 號 | TomoScope | TomoCheck | TomoScope HV Compact | TomoScope HV |
測量工件尺寸(直徑) | 90mm | 90mm | 350mm | 350mm |
測量高度 | 200mm | 200mm | 350mm | 500mm |
允許誤差 (用CT傳感器) | (4,5+L/75) μm | (1,5+L/500) μm | (4,5+L/75) μm | (4,5+L/75) μm |
允許誤差(E1:單軸精度) | (2,5+L/120) μm | (0,5+L/900)μm | (2,5+L/120) μm | (2,5+L/120) μm |
(E2:平面精度) | (2,9+L/100) μm | (0,7+L/600) μm | (2,9+L/100) μm | (2,9+L/100) μm |
(E3:空間精度) | (4,5+L/75) μm | (1,5+L/500) μm | (4,5+L/75) μm | (4,5+L/75) μm |
X射線源 | 130kV(150,190kV可選) | 130kV | 225kV | 225kV(450kV可選) |
X射線探測器像素 | 1024x1024 | 1024x1024 | 1024x1024 | 2048x2048 |
X射線探測器尺寸 | 50x50mm | 50x50mm | 200x200mm | 400x400mm |
分辨率 | 0.1μm | 0.1/0.01μm | 0.1μm | 0.1μm |
定位速度 | 150mm/s | 60mm/s | 150mm/s | 150mm/s |
加速度 | 300mm/s2 | 250 mm/s2 | 350 mm/s2 | 350 mm/s2 |
工作臺承重 | 2kg | 10kg | 40kg | 40kg |
電源 | 230V +/-10% | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE |
氣壓 | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar |
儀器自重 | 3000kg | 6000kg | 8500kg | 11000kg |
1). 依據標準ISO 10360和VDI/VDE 2617，使用TP200, WFP測量或CT傳感器選擇同等及更高精度探針修正或光學傳感器選用同等及更高精度探針修正
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg
如果您有工業CT以及內部缺陷掃描測量需求，請隨時聯系我們
